জেডেক জেসড 22 বি 113

চ্যালেঞ্জ

বোর্ড স্তরের যান্ত্রিক পরীক্ষাগুলি মাইক্রো ইলেক্ট্রনিক্স প্যাকেজিং শিল্পের মধ্যে একটি প্রয়োজনীয় মানের নিয়ন্ত্রণ পরীক্ষা। তারা চালানের সময় আন্তঃসংযোগ ব্যর্থতার বিরুদ্ধে এবং শেষ-ব্যবহারের পণ্যগুলিতে যেখানে চক্রীয় চাপ এবং প্রভাব থেকে শক অভিজ্ঞ হয় সেখানে আইসি উপাদানগুলির কার্যকারিতা সমর্থন করার জন্য তারা পরীক্ষার ডেটা সরবরাহ করে।

জেডেক জেসিড 22 বি 113 পরীক্ষার পদ্ধতিটি হ্যান্ডহেল্ড বৈদ্যুতিন পণ্য অ্যাপ্লিকেশনগুলির জন্য ত্বরান্বিত পরীক্ষার পরিবেশে পৃষ্ঠতল মাউন্ট করা বৈদ্যুতিন উপাদানগুলির কার্যকারিতা মূল্যায়ন ও তুলনা করতে ব্যবহৃত হয়। এটি একটি নির্দিষ্ট 4-পয়েন্ট চক্রীয় নমন পরীক্ষা পদ্ধতি ব্যবহার করে করা হয়।

আমাদের সমাধান

স্ট্যান্ডার্ডটি একটি ড্রপ ইমপ্যাক্ট পরীক্ষার সাথে আকার এবং বিন্যাসের অনুরূপ একটি নমুনা নকশার প্রস্তাব দেয়। এটি এই পরীক্ষাটি সম্পাদনের জন্য স্প্যান এবং চক্রীয় প্রশস্ততা, ফ্রিকোয়েন্সি এবং তরঙ্গরূপ নির্দিষ্ট করে। আন্তঃসংযোগ ব্যর্থতা প্রতিরোধের ডেইজি চেইনের উপর ভিত্তি করে নির্ধারিত হয়, সাধারণত প্রাথমিক প্রতিরোধের চেয়ে পাঁচগুণ বা 1000ohms, যেকোনও বেশি। জেডেক জেসিড 22 বি 113 পরীক্ষার চ্যালেঞ্জ যে কোনও অপারেটর অবশ্যই পরীক্ষার সিস্টেমটি অবিচ্ছিন্নভাবে প্রিন্টেড ওয়্যারিং বোর্ডের (পিডাব্লুবি) উপর একটি নির্দিষ্ট চক্রীয় তরঙ্গরূপের উপর ভিত্তি করে 4-পয়েন্ট বেন্ডের মাধ্যমে দীর্ঘকালীন ক্লান্তি থেকে 4-পয়েন্ট বেন্ডের মাধ্যমে 200,000 চক্রের উপর ভিত্তি করে 1-3Hz ফ্রিকোয়েন্সি পর্যন্ত 200,000 চক্রের উপর ভিত্তি করে নমনীয় লোডিং তৈরি করতে হবে।

জেডেক জেসড 22 বি 113জেডেক জেসড 22 বি 113জেডেক জেসড 22 বি 113জেডেক জেসড 22 বি 113